Testování mikromodulů

speciálně přizpůsobený automatický tester 

  • umožnuje testovaní jednotlivých modulů na waferů
  • testování schopností pro FP/DFB/VCSEL/PIN/APD čipy
  • snadné přizpůsobení pro různé waferové povrchy (různá metalizace, vzor elektrických cest)
  • možnost testování pří teplotním rozsahu od +25ºC do +110ºC
  • testování laserů s vlnovou délkou v rozsahu od 850nm do 1630nm
  • 100% elektrické testování všech čipů na waferu
  • záznam stavů jednotlivých čipů na waferů (waferove mapy: pozice x/y, stav čipu)
  • možnost porovnání dat před a po zahoření
  • uložení všech měřících dat v lokální databázi
  • sledovatelnost měřících dat pro každý čip
  • ověření stability/opakovatelnosti pomocí referenčních waferů
This website uses cookies in order to obtain quality services, advertising personalization and attendance analysis. By continuing to browse the site, you are agreeing to our use of cookies. More information