Testování TO/OSA

speciálně přizpůsobené automatické testovací věže

  • proces testování na úrovni jednotlivých součástek/modulů
  • testování vysílačů FP, DFB, VCSEL
  • testování přijímačů PIN, APD, PINTIA, APDTIA
  • testování OSA a butterfly modulů
  • možnost testování v teplotním rozsahu od +25ºC do +85ºC
    (možnosti testovaní i při -40ºC)
  • testování laserů s vlnovou délkou v rozsahu od 850nm do 1630nm
  • testování součástek umožňujících přenos dat s rychlosti do 10GBit/s
  • možnost testování nestandardních parametrů (definovaných zákazníkem)
  • ukládaní měřících dat v lokální databázi
  • sledovatelnost měřících dat pro každý komponent
  • ověření stability/opakovatelnosti procesu testování pomocí referenčních modulů
This website uses cookies in order to obtain quality services, advertising personalization and attendance analysis. By continuing to browse the site, you are agreeing to our use of cookies. More information