Testování TO/OSA

speciálně přizpůsobené automatické testovací věže

• proces testování na úrovni jednotlivých součástek/modulů
• testování vysílačů FP, DFB, VCSEL
• testování přijímačů PIN, APD, PINTIA, APDTIA
• testování OSA a butterfly modulů
• možnost testování v teplotním rozsahu od +25ºC do +85ºC
  (možnosti testovaní i při -40ºC)
• testování laserů s vlnovou délkou v rozsahu od 850nm do 1630nm
• testování součástek umožňujících přenos dat s rychlosti do 10GBit/s
• možnost testování nestandardních parametrů (definovaných zákazníkem)
• ukládaní měřících dat v lokální databázi
• sledovatelnost měřících dat pro každý komponent
• ověření stability/opakovatelnosti procesu testování pomocí referenčních modulů