Testování TO/OSA
speciálně přizpůsobené automatické testovací věže
- proces testování na úrovni jednotlivých součástek/modulů
- testování vysílačů FP, DFB, VCSEL
- testování přijímačů PIN, APD, PINTIA, APDTIA
- testování OSA a butterfly modulů
- možnost testování v teplotním rozsahu od +25ºC do +85ºC
(možnosti testovaní i při -40ºC) - testování laserů s vlnovou délkou v rozsahu od 850nm do 1630nm
- testování součástek umožňujících přenos dat s rychlosti do 10GBit/s
- možnost testování nestandardních parametrů (definovaných zákazníkem)
- ukládaní měřících dat v lokální databázi
- sledovatelnost měřících dat pro každý komponent
- ověření stability/opakovatelnosti procesu testování pomocí referenčních modulů